PROFESSORES

Profa. Márcia C.A. Fantini, Edifício Basílio Jafet, sala 224, tel: 3091 6882, e-mail:mfantini@if.usp.br

Prof. Manfredo H. Tabacniks, Edifício Basílio Jafet, sala 225, tel: 3091 6846, e-mail:tabacniks@if.usp.br

OBJETIVOS

Proporcionar base teórica e experimental para a análise estrutural e composicional de materiais e filmes finos por meio de técnicas de raios X e de feixe iônico com alta energia.

PROGRAMA

Princípios teóricos e prática experimental (com o uso de programas de micro-computador para análise de dados experimentais) em:

Cristalografia

Difração de raios X (XRD)

.Espalhamento de raios X a baixo ângulo (SAXS)

.Aplicações com Radiação Síncrotron (XANES e EXAFS)

Análise de Materiais por Feixes Iônicos (IBA)

.Emissão de Raios X Induzida por Prótons (PIXE)

.Retro-espalhamento Rutherford (RBS)